现代太阳能电池板要求越来越高的功率密度和更长的使用寿命。太阳能应用涵盖功率优化器和内置微型逆变器的面板，受到越来越多客户的关注和广泛使用。 基于氮化镓功率晶体管和集成电路的解决方案可以使太阳能发电系统更小型化、操作更低温、更高效和更可靠。 太阳能装置必需可以运行超过25 年。在本次线上研讨会中，我们将深入探讨利用“测试器件至失效”方法来准确预测 eGaN 器件寿命的开创性方法，该方法已证明用于太阳能应用的eGaN器件可用超过25 年。此外，DC/DC转换器的可靠性对于维持系统性能、确保安全、最大限度地降低成本、缩短停机时间、延长产品使用寿命和实现可持续性至关重要。本次线上研讨会也将与您分享有关各种DC/DC转换器拓扑中氮化镓技术可靠性的知识和实践，包括同步整流和降压转换器、探讨采用最先进的“测试器件至失效”方法以准确预测到用于DC/DC转换器常用拓扑的eGaN器件寿命的重要性。采用GaN FET和IC的电机驱动应用则可实现更高的效率、改进的性能和紧凑的设计。 在电机驱动系统中使用氮化镓技术有助于节省能源、减少热耗和提高整体系统的可靠性。我们将研究“测试器件至失效”方法如何预测出GaN FET和IC在电动汽车、机器人、工业自动化和无人机等各行业的实际电机驱动应用中的使用寿命，展示出氮化镓器件具备卓越的可靠性。
现任EPC公司的产品可靠性副总裁，负责领导团队对氮化镓晶体管和集成电路进行故障分析。在加入EPC公司之前，他曾担任移动电话行业 RF-MEMS 器件的高级故障分析工程师。他获得亚利桑那州立大学材料科学与工程博士学位，研究用于蜂窝和先进计算应用的低损耗电介质。他获得华中科技大学科学学士学位，独着或合著超过30编技术论文。他是JEDEC JC-70 宽能隙电力电子转换半导体委员会的委员。
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